研發成果
旭東機械於全球共設置3個研發中心,並以台灣為技術研發重心,於深耕光學、機構、電控、軟體、製程等核心基礎技術能量過程中,持續結合產、學、研單位外部能量,整合技術開發與產品需求,培育研發人才,不斷精進關鍵設備基礎技術研發能量,旭東公司電子設備事業處的研發成果如下:
技術項目 | 成果 | 產品應用 |
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關鍵微分干涉光學模組設計技術 | 串聯顯微鏡模組、微分干涉模組、分光模組、偏振模組、CCD影像處理模組、光源模組與均光模組。開發國產化關鍵微分干涉光學模組,在影像感測器上呈現良好的影像,滿足客戶關鍵製程的產線需求。 | 020102 半導體檢量測設備Semiconductor Inspection _ Metrology |
高速高動態性機電設計技術 | 整合高規格機電系統技術達到高速高動態移動控制與高精度運動控制能力,並建立雷射追焦系統技術,透過高穩定高動態的即時追焦能力,克服影響設備穩定性的要因。克服超薄化產品生產過程中翹曲量變大而影響生產製程的問題。 | 020102 半導體檢量測設備Semiconductor Inspection _ Metrology |
先端多複合功能系統整合技術 | 開發製程參數管理、檢測軟體、產品生產資訊管理、機台狀態管理、人性化客製化介面設計等功能,提升設備服務化能量,滿足產業最先端的全自動生產線製程良率控管需求。 | 020102 半導體檢量測設備Semiconductor Inspection _ Metrology |
雷射直接成像技術 | 開發應用於PCB產業之 LDI System,滿足未來少量與多樣的客戶端需求,並提供可靠、有成本效益的製造格新設備。 | 020102 半導體檢量測設備Semiconductor Inspection _ Metrology |
高速取像技術轉移、高速檢出技術轉移、演算法技術轉移、DSP FPGA 技術轉移、製程技術支援 | 國內所缺少的高速AOI檢出技術在台灣扎根,配合本公司的設備製造與服務體系,將ADI/AEI檢測設備國產化,以降低對進口設備的依賴度,增加國內面板業的兢爭力。 | 020102 半導體檢量測設備Semiconductor Inspection _ Metrology |
自動光學檢測缺陷分類技術開發 | 可完全配合面板廠的要求,將ADC的準確率持續提升,落實未來新一代光電產業檢測設備國產化之需求。 | 020102 半導體檢量測設備Semiconductor Inspection _ Metrology |
應用於基板黏合設備技術開發 | 本技術開發完成後,將具有完整的技術自主性,避免面板設備操控於日韓等競爭廠商。本公司的的自動化設備產品線將更臻完整,符合目前面板廠所提出的Multi-Function Machine的概念,有效降低產業設備成本,提昇產業的競爭力。 | 020102 半導體檢量測設備Semiconductor Inspection _ Metrology |